宁波怡信光电科技有限公司
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影像测量仪主要应用于二维尺寸测量,适用于所有需要二维坐标测量的领域。其原理基于CCD数位影像技术,结合*的计算机屏幕测量软件及空间几何运算能力。计算机在安装专用控制与图形测量软件后,成为设备的“智能大脑”,是整套系统的核心主体。
在影像测量仪的使用过程中,严格遵循以下两大原则至关重要:
一、 基本测量原则
对于同一被测量,可能存在多种测量方法。为减小测量不确定度,应尽可能遵守以下基本测量原则: 1. 基准统一原则:
要求: 测量基准应尽可能与加工基准和使用(设计)基准保持一致。
应用:工序测量: 应以工艺基准作为测量基准。
最终检测:应以设计基准作为测量基准。 2.阿贝原则 (Abbe Principle):
要求:测量过程中,被测长度与作为基准的长度应**安置在同一直线上。
原因:若两者平行并排放置,测量比较时会因导轨制造误差或移动方向偏移,导致两长度间形成夹角,产生显著的余弦误差。此误差大小与夹角及两长度间的距离成正比,距离越大,误差越大。
二、 最短链原则
在间接测量中,与被测量存在函数关系的其他量会共同构成测量链。测量链的环节越多,最终被测量的不确定度(误差)就越大。因此,应尽可能减少测量链的环节数,以保证测量精度,这就是最短链原则。
核心思想: 优先采用直接测量。只有在无法直接测量或直接测量精度不足时,才考虑间接测量。
应用实例: 组合量块时,应使用最少数目的量块来拼出所需尺寸。
关联原则:最小变形原则
问题: 测量器具和被测零件可能因环境温度偏离标准温度或受力(重力、测量力)而发生变形,导致测量误差。
措施:
为减小变形误差,需:
1. 严格控制测量温度及其波动。
2. 保证测量器具与零件充分等温。
3. 选用线胀系数与零件相近的测量器具。
4. 选择并保持适当的、稳定的测量力。
5. 为零件选择合理的支承点。
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ATM-4030 全自动高精度二次元影像测量仪
现时所有的自动机 ATM 系列,在出厂前都要做 2000 次的“煲机测量”,我们用一支玻璃尺,在台面的四个方向,X , 45 度,Y 和 135 度等方向,每方向重复测量 500 次,合共 2000 次,测量一个 180 mm 的长度,我们便将整个测量的数据全部纪录下来,最大最小尺寸差要保证在 2um 内才能出厂!